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二維X射線(xiàn)衍射儀
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產(chǎn)品描述
參數(shù)
二維X射線(xiàn)衍射有很多方面的應(yīng)用,如物相分析、晶體結(jié)晶度測(cè)定、晶體的取向分析、薄膜厚度的測(cè)定等方面。實(shí)驗(yàn)中使用二維探測(cè)器可記錄二維象、二維衍射花樣的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分析和解釋。
優(yōu)勢(shì):
1.X射線(xiàn)穿透深度連續(xù)可調(diào)
2.可觀(guān)察不同取向晶面的分布情況
3.纖維、薄膜、粉末等樣品的取向分布
4.晶格畸變、晶疇尺寸等結(jié)構(gòu)特征的分析
探測(cè)器(近距影像圖片)
測(cè)試譜圖
氧化鈰粉末
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